Thursday, 21 May 2026

จีนจี้สหรัฐฯ สอบปม “นักวิจัยชิป” พลัดตกตึกเสียชีวิต หลังถูก FBI สอบสวนอย่างหนัก

จีนจี้สหรัฐฯ สอบปม "นักวิจัยชิป" พลัดตกตึกเสียชีวิต หลังถูก FBI สอบสวนอย่างหนัก

ทางการจีนเรียกร้องสหรัฐฯ สอบสวนหาสาเหตุการเสียชีวิตของนักวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ชาวจีนในมหาวิทยาลัยมิชิแกน หลังพบเสียชีวิตไม่นานหลังถูกเจ้าหน้าที่สหรัฐฯ เรียกตัวไปสอบสวนในลักษณะ "คุกคาม"